同惠TH512 半导体C-V特性分析仪

同惠TH512 半导体C-V特性分析仪具有以下性能特点：

栅极电压VGs:0-±40V

漏极电压Vos:0-±1500V

四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

一体化设计:LCR+VGs低压源+Vps高压源+通道切换+上位机软件

单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

电容快速充电技术，实现快速测试

接触检查Cont

通断测试OP_SH

自动延时设置

Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

高压击穿保护:Ds瞬间短路，保护仪器

Interock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513)

Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式

10档可选