同惠电子TH521功率器件分析仪攻克功率半导体mΩ级导通电阻测试难题
一名学生带着自研的氮化镓(GaN)器件来到同惠电子,需求十分明确:精准测量导通电阻(Rds-on)。尽管实验室里不缺高精度的进口设备,但测试结果却始终无法与理论值对齐——实测值总是异常偏大。
这并非个例,而是整个行业面临的共性痛点。以碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)为代表的第三代半导体,凭借宽禁带和高击穿场强,正推动功率器件向更高电压、更大电流和更低损耗的方向演进。在这一趋势下,万伏级SiC/GaN器件的Rds-on已下探至毫欧甚至亚毫欧量级。然而,传统测试设备在应对这一微小信号时,往往面临噪声大、曲线毛刺多等问题,难以保证数据的可靠性。
问题排查
问题 | 原因 |
实测Rds-on偏大 | 学生自制工装并非商业级,工装自身存在残余电阻,且未被有效扣除 |
进口设备测不准 | 进口设备虽然精度高,但不支持自动扣除工装残余电阻 |
经过排查,问题根本不在器件,而是工装:
TH521系列功率器件分析仪正是为解决这一痛点而来。
6V量程精确测量小信号:
Rds-on测试中,恒定电流ID通常取20A、50A、100A、150A等档位。以1mΩ的导通电阻为例,对应压降仅为20mV~150mV——这是一个极其微小的信号。
TH521系列具备6V(仅测量)、60V两种量程可供选择。以150mV信号为例,在6V量程下的测量精度远高于60V量程。TH521保留60V量程以满足大信号场景,同时新增6V量程专门用于小信号高精度测量,两者互补。
残余电阻扣除:
氮化镓(GaN)器件体积小,为精准测试,学生自制了专用工装——但问题也随之而来:工装自身存在残余电阻,直接拉高了Rds-on的实测值。
怎么解决?TH521系列支持软件自动测量+自动扣除:不管你用什么工装,软件都能先测出残余电阻,再自动清零,无需额外更换夹具。
除此以外,TH521还具备以下优势:
▮多参数特性测试
TH521系列可覆盖多达数十项参数的测试需求——从静态特性中的阈值电压、击穿电压、输出/栅极泄漏电流等,到电容-电压特性中的器件电容等,再到高频场景下极易出现偏差的反向传输电容Cres等,均能实现更高精度的测量。

▮自动创建Datasheet


海量测试数据靠人工整理,既慢又容易出错。TH521系列技术资料生成系统内置标准化模板库,一键即可自动生成功率器件(半导体及元器件)的完整技术资料,把研发人员从繁琐的数据处理中解放出来。

传统仪器依赖人工编程,开发难、维护繁、成本高。TH521引入AI辅助脚本编辑,自然语言交互实现"所思即所得",加速方案迭代;自动生成Datasheet保障数据一致性,助力国产器件替代。如果您想试用样机或者了解更多欢迎联系安泰测试!






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