罗德与施瓦茨ZNB3000矢量网络分析仪DisplayPort UHBR RX损耗测量

本方案针对DisplayPort UHB R（Ultra-High Bit Rate）接收端设备，依据规范要求，使用罗德与施瓦茨ZNB3000矢量网络分析仪，对其差分回波损耗和共模返回损耗进行符合性测量。测试旨在准确评估接收器在高速信号传输下的阻抗匹配性能，确保其满足UHBR电气规范。

测试系统配置

测试平台以R&S®ZNB3000矢量网络分析仪为核心，配套射频电缆、测试夹具（含差分探针或连接器接口）及校准件。系统需支持4端口S参数测量，并具备去嵌入功能，以消除夹具和线缆引入的误差。推荐使用自动校准单元（如R&S®ZN-Z系列）以提升效率，亦可选配手动校准套件作为备选。

同轴校准

（1）自动校准单元法（优选）

在VNA前面板按【CAL】键，选择“Start…（Cal Unit）”。

校准类型选取UOSM（未知直通、开路、短路、匹配），该类型精度最佳。

按向导依次连接校准单元的各端口，完成全部校准步骤。

校准结束后，选择“Cal”→“Use Calibration”，进入“Cal Manager”将校准数据存入校准池，并赋予有意义的名称（如“Coax_Cal_20260724”），便于后续调用。

（2）手动校准套件法（备选）

若无可用的自动校准单元，按【CAL】→“Start…(Manual)”，仍选UOSM类型。

在“Calibration Settings”对话框中，依次连接开路、短路、匹配及未知直通标准件。至少测量3个未知量，连接更多标准可提高精度。

完成后同样通过“Cal Manager”保存校准数据。

完成同轴校准后，需确认校准生效：在所需测量组中调用该校准，点击“Apply”使之作用于当前通道。

测试夹具去嵌入

同轴校准将参考面定在射频电缆末端，而实际DUT位于夹具远端，故必须去除夹具的插入损耗和时延影响。提供两种实现方式：

（1）使用夹具供应商提供的S参数文件（推荐）

在VNA前面板按【Offset Embed】。

根据文件端口数选择“单端”（2端口.s2p）或“平衡”（4端口.s4p）。

导入随夹具提供的Touchstone文件，VNA自动计算并嵌入去嵌入网络。

（2）利用ISD工具现场生成去嵌入文件（适用于无文件或夹具老化情况）
需安装R&S®ZNB-K220软件选项。操作流程如下：

进入“Channel”→“Offset Embed”→“De-embedding Assistant”。

将VNA端口1接至待测通道的“+”端，端口3接至“-”端（差分对）。

选择ISD作为固定工具，设定DUT类型为“1×1 Balanced”，左右侧均选“Balanced”。

取消“左右使用相同coupon”选项，分别对左侧（L1）和右侧（L2）的1×开路标准件进行测量，点击“Measure”采集数据。

将DUT接入左右夹具之间，选择对应端口（L1和L2），点击“Measure DUT + Fixture”。

最后点击“Apply”，VNA即生成去嵌入文件并实时补偿，使测量参考面移至DUT引脚处。

测量执行

校准与去嵌入完成后，设置VNA为Sdd11（差分回波损耗）和Scc11（共模回波损耗）测量格式，频率范围覆盖UHBR要求的奈奎斯特频段（最高约10 GHz以上）。连接DUT，读取Sdd11和Scc11的幅度曲线，并与规范限值（如-10 dB或-6 dB，具体视标准版本）进行比对，判定合格与否。

注意事项

每次更换测试夹具或射频电缆后，需重新执行同轴校准及去嵌入步骤。

手动校准时，注意扭矩和连接重复性，避免引入额外误差。

ISD去嵌入需保证夹具上的开路标准件状态良好，测量前清洁探针或连接器。

建议保存完整的校准和去嵌入状态文件，便于复现及追溯。

本方案依托R&S®ZNB3000的高精度S参数测量能力，通过严谨的同轴校准和灵活的夹具去嵌入（支持供应商文件或ISD现场提取），可有效消除系统误差，确保DisplayPort UHBR接收端回波损耗测试结果真实可靠。该方法兼具效率与准确性，适用于研发验证、一致性认证及产线抽检等多种场景。