普源精电发布DSU2000系列台式精密源测量单元

近日，普源精电（RIGOL）自愿披露，公司即将发布DSU2000系列台式精密源测量单元（SMU）及SUP5000系列PXIe高密度源测量系统，进一步完善解决方案产品矩阵，产品能力将覆盖半导体研发、验证及量产测试等关键场景，持续深化半导体测试领域布局。 

DSU2000系列是普源精电首次发布的台式精密源测量单元，提供了最多两个通道的四象限电源输出和测量的能力，每个通道均具备40W的最大输出功率，±220V/±1.1A的电压电流范围，以及最小50us脉宽，最大3A的电流脉冲输出能力，面向半导体器件表征、光电测试、新能源研发及生产线自动化测试等场景，提供高功率、高速度、低噪声的精准源测量能力。

SUP5000系列是一款高精度、高集成度的多通道源测量系统，采用国内首款单PXIe板卡24通道设计，单机箱最高可扩展至384通道，可满足多通道、高密度的半导体产线自动化测试需求，助力用户构建定制化测试解决方案。

半导体量产测试：电子测量价值的“高地”

电子测量仪器作为现代高端制造的重要基础工具，广泛应用于研发设计、产品验证、生产制造及质量检测等环节，是通信、新能源、汽车电子及半导体产业发展的重要基础支撑。

其中，半导体测试是电子测量技术最具技术门槛和产业价值的应用方向之一。从晶圆制造、器件研发，到封装测试、可靠性验证，再到最终量产测试，测试能力直接影响芯片性能、良率和可靠性，是保障先进工艺稳定运行的重要基础。

与传统研发测试相比，半导体量产测试对设备提出了更高要求，不仅需要具备更高的测量精度、更低的噪声水平和更好的长期稳定性，还需要支持自动化系统协同、高吞吐测试及长期连续运行。一旦完成客户验证并进入量产体系，测试设备通常伴随产品全生命周期持续应用，客户粘性和复用价值更高，也形成了更高的技术壁垒。

当前，以AI算力、高性能计算、先进封装、Chiplet、第三代半导体、汽车电子等为代表的新一轮产业升级正在持续提升芯片复杂度，对参数测试、可靠性测试和动态测试提出更高要求。同时，在国产替代持续推进、高端测试设备自主可控需求不断提升等因素推动下，国内半导体测试市场正迎来新的发展机遇，也为国产电子测量企业提供了更广阔的发展空间。

覆盖研发、验证到量产，深化产业应用

作为半导体测试的重要基础仪器，源测量单元广泛应用于半导体器件研发、晶圆制造、封装测试及系统级自动化测试等关键环节。

在静态参数测试领域，DSU2000/SUP5000系列可应用于MOSFET、IGBT、SiC、GaN等功率半导体器件I-V特性、阈值电压、击穿电压等关键参数测试，以及晶圆级漏电流筛查、封装后器件参数分选、可靠性验证等典型场景，为半导体研发及Fab、封测产线提供高精度测试能力。

在动态测试领域，产品可结合高速示波器、脉冲测试等解决方案，支持面向HVDC和高压电源等应用场景的SiC/GaN功率器件动态参数测试，为高性能功率半导体开发及验证提供测试支撑。

除半导体领域外，DSU2000/SUP5000系列还可广泛应用于LED及激光器LIV测试、VCSEL阵列测试、太阳能电池及锂电池特性测试、新材料与传感器研究，以及ATE系统集成等多个应用方向，并兼容行业主流SMU指令集，可有效降低客户自动化测试平台升级成本，进一步提升系统部署效率。

从实验室研发，到晶圆制造，再到封装测试及自动化量产验证，DSU2000/SUP5000系列进一步丰富了普源精电面向半导体产业链的测试能力，也推动公司行业解决方案持续向更深层次应用场景延伸。

自主创新驱动，持续拓展高端测试测量能力

近年来，普源精电持续推进自主核心技术创新，围绕数字示波器、微波射频仪器、直流精密仪器及模块化仪器构建完整产品体系，并不断向半导体、通信、新能源等高景气行业深化布局。

作为全球少数实现自研ASIC芯片电子测量仪器商业化应用的企业之一，公司持续突破高端电子测量核心技术，高端产品矩阵逐渐完善，为行业解决方案能力不断提升奠定了坚实基础。

此次DSU2000系列源测量单元及SUP5000系列源测量系统的推出，不仅进一步完善了普源精电在半导体测试领域的产品布局，更标志着公司产品能力持续向研发、验证及量产测试等高价值应用场景延伸。随着AI算力、先进封装、第三代半导体、高端制造等战略行业需求持续释放，公司有望进一步拓展高附加值应用领域，培育新的增长动能，为长期高质量发展打开更加广阔的空间。