是德E5080B矢量网络分析仪去嵌入三步消除夹具损耗与相移

矢量网络分析仪测量非同轴器件时，必须通过测试夹具连接被测件（DUT）。夹具本身会引入插损、回波反射和非线性相移，使测量参考面偏离真实器件，导致 S 参数、群时延等结果失真。是德 E5080B 内置多种去嵌入（De-embedding）手段，可将夹具效应从测量结果中数学剥离。按精度递增，主要有三种方法。

一、端口延伸（Port Extension）：最快的基础补偿

适用于夹具为均匀传输线、损耗与相移近似线性的场景。该功能在 E5080B 完成校准后，将测量参考面电学延伸到 DUT 端面，无需夹具模型。操作：进入 Response（或 Cal）菜单，打开 Port Extensions 对话框，开启 1/2 端口延伸；可手动输入电长度，也可先接 DUT 开路 / 短路件，用 Automatic Port Extension 一键求解延时并扣除。此法只补偿线性相位，无法修正夹具失配与不平坦损耗，精度有限。

二、S2P 文件去嵌入：最常用的精确方案

当夹具特性复杂（阻抗不连续、多条引线）时，应使用 Cal Plane Manager（校准平面管理器）加载 Touchstone 文件。流程分两步：

第一步，夹具表征。在夹具入口处做一次常规校准（如 SOLT 或电子校准件 ECal），得到夹具到端口的精确 S2P 数据；也可将夹具入口短接或用 2×Thru 结构测出左右两半夹具的 S2P 并保存。第二步，去嵌入。进入 Cal > Cal Plane Manager，为 A/B 两个端口分别 Browse 选择对应 .s2p 文件，确认端口顺序后点击 Apply，E5080B 即把夹具 S 参数并入误差模型实时扣除，屏幕上直接显示纯 DUT 结果，无需外部后处理。若夹具模型由 RLC 集总参数构成，也可用 Fixture Simulator 以电路块方式定义去嵌块。

三、TRL 校准：测同轴转微带的首选

TRL（直通 - 反射 - 传输线）本质上是内置去嵌入的校准方法，用标准传输线替代传统校准件，能精确移动参考面并扣除夹具损耗。在 E5080B 的 Cal 向导中选择 TRL，定义 Thru、Reflect（开路 / 短路）与 Line 标准件及其延迟即可。其精度高于端口延伸，适合毫米波和带状线 / 微带测试。

注意事项：夹具 S2P 表征频率范围必须覆盖测试频段且相位格式一致（默认对数幅度与角度）；夹具装夹状态每次测试保持一致，否则去嵌失效；去嵌入前务必先完成端口校准，两者不可相互替代。

掌握以上三法，即可在 E5080B 上快速、精确地剥离夹具损耗与相移，还原被测件真实特性。