是德 E4980B 精密 LCR 表绝缘材料介电损耗测量解决方案

绝缘材料的介电损耗直接关系到电子元件的发热、信号衰减与长期可靠性。从高压电缆绝缘层到 PCB 基材，损耗角正切（tanδ）都是材料选型和来料检验的关键指标。是德科技 E4980B 精密 LCR 表以 20 Hz～2 MHz 的宽频覆盖和 0.05% 基本精度，为绝缘材料介电损耗测量提供了高可靠性方案。

一、介电损耗的本质

绝缘材料在交变电场中会产生能量损耗，主要由漏导损耗和极化损耗构成：前者源于材料内部的导电漏电流，后者来自偶极子极化滞后于电场变化造成的能量耗散。工程上以损耗角正切 tanδ（损耗因数 D）表征，D 值越大，材料发热越严重、高频下信号损耗越大，对绝缘性能越不利。

二、E4980B 测量核心优势

直接测量 Cp-D 参数。E4980B 基于平行板电容法，配合 16451B 等平行板电极夹具，在测量页面直接选择 Cp-D（并联电容 - 损耗因数）模式，一次读数同步获得电容与损耗信息，无需繁琐换算。

宽频扫频能力。20 Hz～2 MHz 连续可调，任意量程内具备四位频率分辨率，支持最多 201 点列表扫描，可一键绘制 tanδ 随频率变化曲线，清晰反映材料极化弛豫与频散特性。

高精度与高重复性。0.05% 基本精度在低、高阻抗量程均保持良好测量重复性，兼顾材料研发与产线分选的数据一致性要求。

灵活的信号与偏置配置。测试信号电平可按材料类型调整；选件 001 支持最高 20 Vrms 测试信号与 ±40 V DC 偏置，可模拟高压绝缘材料的实际工作条件。

完善的误差补偿机制。通过开路 / 短路 / 负载补偿消除夹具残余阻抗与杂散电容影响，配合夹具端口延伸校准，最大限度压缩测量误差。

三、测量流程要点

预热：仪器开机预热至少 30 分钟，待热稳定后再进行校准；

校准：先执行开路补偿消除夹具分布电容，再执行短路补偿消除引线残余电阻与电感；

设置：选择 Cp-D 模式，按样品预估电容选择合适的量程，测试频率按应用设定（如 1 MHz），测试信号建议 0.5～1 Vrms；

测量：将样品置于电极间并施加适当压力确保紧密接触，触发测量后读取 D 值即得损耗角正切，结合电容值可进一步换算介电常数。

综上，E4980B 凭借宽频覆盖、高精度与系统化补偿机制，可准确表征绝缘材料在 20 Hz～2 MHz 频段的介电损耗特性，是材料研发与质量管控中值得信赖的测量工具。