泰克MP5000系列再升级加速半导体与光电器件验证

全新的双通道模块和 TriggerFlow 功能可帮助工程师更早地进行深入测试，实现并行工作流程自动化，并从验证阶段扩展到生产阶段。

泰克今日宣布推出适用于 MP5000 系列模块化精密测试系统的MSMU200-2源测量单元 (SMU) 模块。新模块扩展了该平台，以支持更高电压的半导体检定、器件可靠性和压力测试，以及光电器件和集成器件的验证。

基于吉时利™ (Keithley™) 的源测量专业技术，双通道MSMU200-2 SMU可提供30瓦的功率范围，涵盖高达200V和1.5A的直流电压与电流，并具备高达7A的扩展脉冲能力。

随着人工智能基础设施、高速光连接和日益集成的半导体设计推动器件复杂性不断提高，工程师们面临着越来越大的压力，需要更早地识别相互作用和潜在故障。在开发后期对单个元件进行测试已不再足够。团队需要在设计周期的早期获得更深入、更系统级的洞察，此时纠正问题的速度更快且成本更低。

“最昂贵的测试失败是在复杂设计已经进入下游阶段后才发现的失败，”泰克精密直流源测量产品组合副总裁兼总经理Javier Irazola表示。“通过在MP5000系列系统中增加更高电压操作、扩展的电流脉冲功能以及用于同步高通道数并行测试的全新直观控制，我们为工程师提供了一种实用的方法，以便更早地进行深入检定，并在通道数和测试需求增加时，将相同的模块化架构应用到生产中。”

支持更高电压运行，

以实现更广泛的设备测试

MSMU200-2 SMU专为需要更高电压、脉冲测量或跨多个器件终端进行精确协调的半导体、集成电路和光电应用而设计。目标应用包括半导体器件检定、封装级可靠性测试和半导体芯片验证，包括专用集成电路和现场可编程门阵列。

主要功能包括：

更高电压的检定和压力测试：两个独立的SMU通道可提供30瓦的功率包络，根据工作点的不同，源测量能力最高可达200伏和1.5安直流电。

延长脉冲且减少器件自发热：高达7安培的脉冲能力允许工程师在受控突发中应用更高电流的测试条件，突发时间短至数百微秒，具体取决于源范围和器件阻抗。这有助于限制可能导致测量失真、掩盖实际器件行为或损坏被测设备的器件自发热。

高速瞬态捕获：集成数字化仪可同时以高达每秒100万次采样率对电压和电流进行采样，使工程师无需为许多直流和脉冲测量增加单独的数字化仪或示波器，即可捕获快速瞬态事件和脉冲波形。

对测试连接更有信心：内置的接触检查功能可以自动化，在测试开始前验证激励和感应连接，有助于防止因与被测设备接触不良而导致的无效测量。

器件和仪器保护：输入过压保护和可选的自动感应功能有助于在严苛的测试和意外连接条件下保护敏感器件、探头和仪器。

“智能”电流接收：独立可编程的正负限值允许工程师以不同的方式控制源电流和接收电流。这减少了在测试电源管理集成电路、稳压器、电池及其他敏感设备时，为防止过大的接收电流而创建自定义算法的需求。

TriggerFlow简化了同步并行测试

TSP™工具包中全新的TriggerFlow™图形界面，使跨 MP5000 系列通道和连接仪器构建、可视化及调试同步并行测试序列变得更加容易。

工程师可以使用TriggerFlow来定义通道何时改变其源电平、进行测量、响应事件或与探针台和处理程序等外部设备进行协调。他们还可以在脚本运行时监控测量数据，包括提前查看缓冲结果，而无需等待整个测试完成。

这种可编程并行控制有助于工程师通过更少的手动编程和PC交互来协调复杂的测试。结合TSP-Link，MP5000系列系统可以将跨通道和已连接主机之间的源变化同步到500纳秒以内，从而允许一个通道精确响应另一个通道上的事件或操作。

同时运行多个通道和测试序列可以提高吞吐量、改善定时精度，并降低高通道数验证和生产测试的成本。

专为适应与扩展而设计的模块化系统

MSMU200-2是继去年推出的60伏MSMU60-2之后，MP5000系列系统可用的第二款SMU。该平台还支持双通道50瓦MPSU50-2ST电源模块。

工程师可以在同一个三插槽MP5103主机中组合SMU和电源模块，在紧凑的1U机架空间内配置多达六个SMU和/或PSU通道。这使团队能够根据每次测试的需求，选择电压、电流、精度和成本的最佳组合，并随着设备、应用和通道要求的变化对系统进行调整。

独立的插槽控制功能允许工程师在插入、拆卸或更换模块时，通过前面板停止和重启插槽。这有助于避免关闭并拔下整个主机的电源，从而在系统维护或重新配置时保持正常运行时间。无需将主机从测试机架中拆下，即可更换可从后部访问的模块。

可用性

MSMU200-2 SMU模块和TSP Toolkit中的全新TriggerFlow接口现已推出。探索MP5000系列模块化精密测试系统。