是德E5071C矢量网络分析仪自动夹具移除（AFR）功能操作步骤详解

在射频微波测量中，当被测器件（DUT）不具备同轴接口时，必须借助测试夹具实现同轴到非同轴结构的转换。夹具引入的寄生参数会显著影响测量精度，因此精确移除夹具效应成为保证测量结果可靠的关键环节。是德科技E5071C矢量网络分析仪提供的自动夹具移除（AFR）功能，通过向导式操作流程，能够高效地完成夹具表征与去嵌入。

一、AFR功能原理与硬件要求

AFR技术通过测量已知的标准夹具（通常为“2倍直通”标准件），利用数学算法反推出夹具左右两半各自的S参数，并将其从总测量结果中扣除。其核心前提是测试夹具与标准夹具必须由完全相同的介质材料制成，最好在同一块基板上加工，以确保两者的电气特性一致。

对于单端夹具，AFR支持1端口和2端口DUT配置；对于差分夹具，则仅支持4端口配置，并可同时移除差分线之间的耦合效应。

二、操作前的准备工作

步骤1：完成同轴端口校准。 在启动AFR之前，必须首先在测试夹具的同轴连接器端面完成校准。使用电子校准件（ECal）可快速完成双端口校准，具体操作为按“Cal”>“Main”>“Other Cals”>“Ecal”，选择2 Port ECal后按向导完成。校准面即为后续AFR的参考面。

步骤2：连接标准夹具。 将“2倍直通”标准夹具连接到已校准的同轴端面，注意确保连接牢固且重复性良好。

三、AFR向导五步操作流程

启动AFR向导：按前面板“Cal”键，选择“Fixtures”>“Auto Fixture Removal”，进入AFR向导界面。

步骤1：描述夹具配置。 在“Describe Fixture”界面中选择夹具类型。单端微带线测试选择“Single Ended”，根据实际DUT选择1端口或2端口测量。若夹具左右两半的匹配或电长度不一致，需在高级设置中勾选相应补偿选项。

步骤2：指定标准件。 选择用于夹具表征的标准件类型，通常为“2X Thru”标准。若仅有左半和右半直通件，也可分别指定。

步骤3：测量标准件。 按照向导提示依次连接并测量各标准件。对于1端口AFR，可使用开路、短路或两者同时测量，从结果中选择最佳拟合。

步骤4：移除夹具效应。 确认VNA端口与待去除夹具的勾选对应无误后，点击“Apply Correction”。向导将自动算法处理，将夹具S参数从测量结果中扣除，此时屏幕上显示的仅为DUT的真实特性。

步骤5：保存夹具文件。 将提取的左右两半夹具S参数分别保存为Touchstone（.s2p）文件，便于后续重复使用或批量去嵌入操作。

四、关键注意事项

为获得最佳AFR效果，夹具插入损耗应控制在15 dB以内，回波损耗应远优于15 dB，最好接近30 dB。建议测量频率比实际需求频率高出约10%，为算法提供额外裕量。频率点应满足谐波关系，即相邻频率点的间隔相等。若AFR结果异常，应首先检查夹具对称性和连接重复性。