同惠LCR测试仪TH2851电感参数测量设置指南

同惠LCR测试仪TH2851作为一款高精度阻抗分析仪器，在电子元件测试中广泛应用。本文将详细介绍如何使用该仪器测量电感参数，并解析关键设置要点与注意事项，帮助用户获得准确可靠的测试结果。

一、测试前准备与连接

1. 环境校准与硬件连接

确保仪器预热至少30分钟，避免温度漂移影响精度。

使用四端对（4T）测试夹具连接被测电感元件（DUT），降低接触电阻至<0.1Ω，提升测量稳定性。检查电源与接地线连接是否牢固，避免电磁干扰。

2. 系统校准与夹具配置

进入“System→Calibration”菜单，选择“Full Calibration”，依次完成开路、短路及负载校准。

若使用特殊夹具（如TH26086），需按说明进行对应校准，确保系统补偿精度。

二、关键参数设置与测量流程

1. 测量模式与参数配置

选择“C-LCR”测量模式，根据应用场景设定测试频率（如音频选1kHz，射频选10MHz）。

设置AC信号电平为0.1V~1V，避免过驱动导致非线性误差；高频测量时建议将平均次数设为10次，降低随机噪声影响。

2. 触发测量与结果记录

确认DUT连接无误后，按“Start”键或点击触摸屏图标触发测量。

读取显示数值（如L=12.34mH±0.5%），并可通过USB/PC导出数据进一步分析。

三、高级功能与优化技巧

1. 动态特性分析（曲线扫描）

启用“扫描模式”并设置频率范围（如100Hz~1MHz，点数≥100），实时绘制L-f曲线。

结合“轨迹对比”功能，分析曲线突变点（如接触不良导致的阻抗跳变），评估元件稳定性。

2. 等效电路建模（ECA）

选择“3元件模型”（R-L串联），输入实测参数自动拟合，解析寄生电阻与电感值，指导元件选型优化。

四、注意事项与故障排除

1. 接触电阻优化

定期清洁镀金触点，测量前短暂按压夹具消除机械接触不稳定，避免接触不良引入误差。

2. 高频干扰抑制

使用金属屏蔽盒隔离外部电磁干扰，避免在强磁场环境中操作。

若测量值异常波动，检查接地线、信号线连接是否松动，或重新进行系统校准。

通过合理配置测试参数、严格校准流程与注意事项，同惠LCR测试仪TH2851可高效完成电感参数测量。用户需根据实际应用场景灵活调整设置，结合高级分析功能挖掘数据价值，确保测试过程精准可靠。掌握本文所述方法，将为元件研发与质量检测提供有力支持。