同惠TH2852 - 500 射频阻抗分析仪
TH2852-500是常州同惠电子自主研发的新一代高精度射频阻抗分析仪,依托国际先进射频IV法原理打造,突破国产高频阻抗测试设备技术瓶颈,打破进口仪器垄断局面,是兼顾科研研发、品质检测与材料分析的全能型精密测试设备,广泛适配射频元器件、半导体、电磁材料等多领域测试需求。
该设备核心优势在于超宽频高精度测试能力,彻底突破行业3GHz频率瓶颈,实现1MHz-5GHz全频段稳定测试,阻抗测试范围覆盖100mΩ-60kΩ,典型测试精度高达±0.3%,测试精度远超常规网络分析仪。设备测试速度可达0.4ms,兼顾高效检测与精准测量,尤其适配低损耗电容器、高Q值电感器的精密测试。同时,仪器搭载自动电长度测量技术与外置测试端口,有效规避测试线电磁耦合干扰,大幅提升高频场景下的测试稳定性,全频段短期稳定度误差极低,数据一致性优异。
简要参数 | TH2852 - 050 | TH2852 - 100
| TH2852 - 200
| TH2852 - 350
| TH2852 - 500
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测试频率 | 1MHz - 500MHz | 1MHz - 1GHz | 1MHz - 2GHz | 1MHz - 3.5GHz | 1MHz - 5GHz | |
基本精度 | ±0.3%(典型值) | |||||
AC信号源 | 电压 | -41dBm — +1dBm | ||||
DC偏置源 | 电压 | 0V—±40V | ||||
TH2852系列射频阻抗分析仪包括以下几种类型:
相较于市面同类测试仪器及同系列TH2853机型,TH2852-500拥有多项独家标配功能,差异化优势显著,核心功能特点可分为四大类:
超高精细测试分辨率,测试模式全覆盖:仪器搭载1mHz超高频率最小分辨率,远优于常规设备,可精准捕捉细微频率参数变化。同时集成点测、定点列表测试、连续曲线扫描、史密斯圆图显示等全维度测试模式,全方位覆盖元器件阻抗测试、参数分析、图形观测等各类常规及科研测试场景,适配多品类测试需求。

强大光标与数据解析能力,深挖测试价值:全系标配高阶数据分析功能,支持曲线光标分析、数据统计、数据保存、多模型等效电路分析,无需额外选配。设备单曲线可搭载10组同步工作光标,可精准检索峰值、谷值、指定目标值等各类关键数据,支持绝对数值、相对参考值双模式读数,还可通过光标一键调整扫描范围、缩放坐标视图,精准拆解测试数据、分析器件性能特性。

3、智能分段扫描功能,测试高效精准:搭载独家分段扫描核心功能,可在单次扫描周期内自主划分多个独立频率区间,为不同频段单独配置测试电平、直流偏置等专属测试条件。针对晶体谐振器、压电器件、射频线圈等特殊器件,可精准锁定核心测试频段,跳过无效频率区间,有效缩短测试时长,规避无效测试干扰,大幅提升测试精准度与检测效率。

多通道可视化展示,支持批量智能分选:支持4通道同步并行显示,配备十四种通道与曲线分屏模式,单通道可叠加4条测试曲线,多窗口自由切换,测试数据直观清晰。同时搭载曲线轨迹对比与智能分选功能,可对比多款器件参数差异、验证单器件测试重复性,还可自定义合格阈值,自动完成曲线区域合格判定,完美适配科研对比测试与量产批量筛查场景。

单通道四曲线显示 单通道单曲线

双通道双曲线显示 四通道四曲线
在拓展能力上,该仪器可搭配专属夹具与软件,拓展介电常数、磁导率测试功能,精准检测陶瓷、塑料、铁氧体等电磁材料的核心参数,满足新材料研发表征需求。硬件配置方面,设备搭载10.1英寸高清触摸屏,搭配Windows10系统与中英文双语界面,操作便捷直观,屏幕可同步显示四项可调测试参数,支持8套常用参数快捷调用,兼容键盘、鼠标、LAN、HDMI等多种接口,适配多样化办公与测试场景。
TH2852-500凭借高精度、高稳定性、多功能、易操作的核心特点,可全面覆盖无源元器件、半导体器件、印制电路板、电磁介质材料的阻抗测试与性能分析,是国产高频阻抗测试设备的标杆产品,为电子制造、科研研发、品质检测提供高效可靠的本土化测试解决方案






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